芯片测试探针

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是芯片测试探针，包括，包括针头组件，所述针头组件包括与被测器件接触的承载体一和针头，所述针头对称安装在所述承载体一的上端，所述承载体一上还设有用于组装其他结构的组装部一；针尾组件，所述针尾组件包括与PCB上的PAD接触的弧形接触面针尾，所述针尾上固定设有用于配合所述针头组件卯榫链接的组装部二；弹簧；本实用新型组装简便，将针尾组件滑入针头组件卯榫空间即可完成，省却复杂打点铆合工艺。不仅提升组装效率、降低成本，直角分布还节省空间，外侧弹簧辅助复位与缓冲，延长探针寿命，提升了性价比。