一种芯片检测设备及检测方法

本发明涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片检测设备，包括检测机架、待检芯片，待检芯片的两侧均设置有若干个等距的针脚，检测机架的顶部设置有第一半开放套座、丝杠传动机构、检测仪。该芯片检测设备及检测方法，通过设置的两组检测探针组件、检测仪、检测支撑架以及双斜面压块、电动推杆组成自动检测装置，继而与第一半开放套座、丝杠传动机构、第一抱闸伺服电机以及弹性夹持部件和导向架组成的移动检测平台、待检芯片组合使用后，除电动推杆通过双斜面压块传动检测探针组件移动对待检芯片侧边上的对应针脚进行自动接触通电检测之外，移动检测平台将自动位移调节待检芯片，使待检芯片侧边上的若干个针脚能逐次被自动检测装置通电检测。