一种基于透明源的鉴别性成像FDTD方法以及倒装芯片系统

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正文
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一种基于透明源的鉴别性成像FDTD方法以及倒装芯片系统
申请号:CN202410712774
申请日期:2024-06-03
公开号:CN118797981B
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明属于光学成像技术领域,本发明提出了一种基于透明源的鉴别性成像FDTD方法以及倒装芯片系统,该方法能够更准确地建立了“光声‑弹光”过程的FDTD数值仿真,解释了制备过程中的倒装芯片存在的两种光声遥感信号的原理机理,可以用于指导光声遥感系统对制备过程中倒装芯片不同层结构的鉴别性成像。
技术关键词
FDTD方法 倒装芯片系统 金属复合结构 电磁场仿真 探测光 折射率变化量 反射率 代表 数值仿真 仿真方法 仿真分析 索引 界面 光学成像技术 弹光系数 方程 声波
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