一种基于位置约束残差和滑窗聚合的缺陷检测方法及系统

本发明涉及图像处理领域，提出了一种基于位置约束残差和滑窗聚合的缺陷检测方法及系统，通过设计一种基于位置编码约束的残差特征的swin transformer模型进行缺陷检测，避免了接受块状标签导致的精度下降问题，并进一步设计了一种边界框标签的缺陷标注算法，极大地降低了标注时的工作量，降低了标注成本的同事极大地提高了标注效率，将图像的深度特征与余弦‑正弦位置编码进行点加融合，获取带有位置信息的位置约束特征，并通过核心子采样操作获取位置约束特征库，以检索计算得到位置约束残差，还设计了一种混合匹配的半监督学习算法，实现了在弱标签条件下的准确检测，极大地提高了图像检测的性能和准确性。