一种测试环境检测方法及电子设备和计算机可读存储介质

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一种测试环境检测方法及电子设备和计算机可读存储介质
申请号:CN202410739183
申请日期:2024-06-07
公开号:CN118312399B
公开日期:2024-08-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种测试环境检测方法及电子设备和计算机可读存储介质,涉及计算机技术领域技术领域,该方法的步骤包括:构建一个测试平台,根据硬件规格为设备分配初始权重;计算性能指标测试量,并训练设备性能长短期记忆模型,预测未来的性能变化趋势,得到设备性能变化率,设置性能变化阈值,判断是否将该设备从设备候选列表中移除,或运行负载剥离策略后通过设备性能变化率为设备重新分配权重,分配新的请求;通过测试工具将分配后的新的请求再次计算性能指标测试量,实现实时检测。本发明能够及时从系统中移除性能不佳的设备,防止其对系统性能产生负面影响,从而提高系统的整体稳定性。
技术关键词
存储设备 长短期记忆模型 测试工具 训练设备 可读存储介质 测试平台 列表 延迟量 网络吞吐量 计算机 数据 电子设备 异构 序列 存储器 策略 速度 处理器 队列 指令
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