一种从设备测试方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种从设备测试方法、装置、设备及介质，涉及芯片验证技术领域。方案通过预设位宽的IO接口获取目标数据，并将其存入对应的发送寄存器；通过状态机和计数器生成预设时序，并基于预设时序通过ESPI总线发送各目标数据至ESPI从设备；接收ESPI从设备的反馈数据并存入对应的接收寄存器中，以便于根据反馈数据确定测试结果。由此可知，本方案利用了预设位宽的输入输出接口，替代了传统的总线接口；同时采用了预设位宽的多种寄存器，对不同类型的目标数据字段进行了区分，可直接通过输入输出接口写入或读取驱动至ESPI总线上的数据，能够清晰显示ESPI总线按字节发送数据包格式，有效地提高了ESPI从设备的验证效率。