一种带有保护功能的半导体测试用老化座

本发明公开一种带有保护功能的半导体测试用老化座，包括上盖、扣件和底座，所述的底座一侧通过连接合页与上盖相连，所述的上盖内设有收纳槽，所述的收纳槽内安装有压紧机构，所述的压紧机构内设有压紧芯。本发明能在老化座运输和使用时，提供内部待测件和老化座底部检测座连接部的双重保护，配合按压上盖或扣件自动扣接并锁紧老化座整体，便于在进行检测待测件等半导体电路时，提高半导体芯片等待测件的取拿效率，通过异形Pin针组传输老化检测时待测件的运行情况数据信号，具有操作简单的优点，避免现有的芯片半导体老化座由于没有专门的保护设计，导致在检测时待测件容易损坏，且待测件检测装配操作复杂的问题。