一种单晶硅生长状态控制方法

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一种单晶硅生长状态控制方法
申请号:CN202410773394
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118390153A
公开日期:2024-07-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种单晶硅生长状态控制方法,本发明建立分层的控制器,上层基于模型预测控制方法建立功率控制器和提拉速率控制器,使熔体温度和提拉速率分别达到期望值;下层提出一种基于熔体温度与提拉速率的生长速率公式,并基于模糊控制理论建立生长速率控制器,动态调整熔体温度与提拉速率的权重系数,直接对生长速率进行控制,然后根据调整后的权重系数及实际生长速率得到生长速率偏差,进一步更新期望熔体温度及期望提拉速率,反馈到上层MPC控制器中,形成闭环控制。本发明能够提高生长设备的鲁棒性和抗干扰性,依据生长状态与制备经验动态调节熔体温度和提拉速率,控制更加精确,适用于大尺寸单晶硅的制备。
技术关键词
状态控制方法 模型预测控制方法 速率控制器 熔体 单晶硅 功率控制器 模糊控制规则 模糊集合 模糊控制理论 校正环节 表达式 闭环控制 偏差 动态 坩埚 鲁棒性 因子 元素
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