一种荧光分子断层成像快速重建方法

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一种荧光分子断层成像快速重建方法
申请号:CN202410787872
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118766416A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及分子影像技术,具体涉及一种荧光分子断层成像快速重建方法,通过激发光源激发荧光探针,并采集待成像物体表面的荧光分布信息;基于光传输模型和有限元理论,构建待成像物体表面的荧光分布信息与待成像物体内部的荧光探针之间的线性关系;将线性关系转化为L2范数极小化问题,采用半阈值迭代算法进行求解,得到第一荧光探针重建结果;获取物体表面的荧光分布集,得到训练数据集;构建荧光分子断层成像模型,利用训练数据集对荧光分子断层成像模型进行模型训练,得到训练好的荧光分子断层成像模型;本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的荧光分子断层成像的准确性和效率较低的缺陷。
技术关键词
荧光分子断层成像 荧光探针 物体 迭代算法 光学仪器 Tecplot软件 分子影像技术 正则化参数 多角度 数据 理论 传播算法 矩阵 密度 方程 波长 网络
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