一种遗传算法优化参数的薄壁轴承缺陷检测机构和方法

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一种遗传算法优化参数的薄壁轴承缺陷检测机构和方法
申请号:CN202410809785
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118549345A
公开日期:2024-08-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种遗传算法优化参数的薄壁轴承缺陷检测机构和方法,控制机台的顶部转动设置有转轴,控制机台的内腔顶部固定设置有伺服电机,伺服电机的输出轴贯穿控制机台的顶部且与转轴的底部固定连接,转轴的顶部固定设置有承载盘机构,本发明涉及轴承缺陷检测技术领域。该遗传算法优化参数的薄壁轴承缺陷检测机构和方法,通过承载盘机构、弧形齿环、锥形限位柱机构、工业相机以及擦拭机构的配合,能对不同内径大小的薄壁轴承进行限位,避免在缺陷检测时薄壁轴承发生滑动,保证检测稳定性,适用范围广,在对薄壁轴承的侧壁进行缺陷检测之前,还能对薄壁轴承的侧壁进行自动清洁,避免油污或杂质粘附其侧表面影响检测结果。
技术关键词
遗传算法优化参数 薄壁轴承 缺陷检测机构 擦拭机构 承载盘 工业相机 支杆组件 限位柱 缺陷检测方法 伺服电机驱动转轴 轴承缺陷检测 齿环 锥形 方形 橡胶防滑条 弧形板 定位组件 磁铁块 竖板
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