半导体装置及半导体装置的制造方法

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半导体装置及半导体装置的制造方法
申请号:CN202410816387
申请日期:2024-06-24
公开号:CN119480831A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种防止绝缘密封部件的气泡、剥离及结露的发生,实现绝缘可靠性的提高的半导体装置及半导体装置的制造方法。半导体装置具有:绝缘基板,其具备多个布线图案;半导体芯片、其配置于多个布线图案中的至少一个布线图案上;金属线,其与半导体芯片电连接;以及壳体,其将绝缘基板配置于底部。另外,绝缘密封部件针对被绝缘基板和壳体包围的区域,从绝缘基板的上表面起覆盖半导体芯片,并在该区域填充至使金属线的至少一部分露出的深度。
技术关键词
半导体装置 半导体芯片 密封部件 布线图案 绝缘部件 端子 绝缘基板配置 电极 正面 金属线 壳体 粘接剂 凝胶 电压 气泡
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