封装结构及其形成方法

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封装结构及其形成方法
申请号:CN202410816978
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118737850A
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
一种封装结构及其形成方法,所述形成方法,提供基板和半导体芯片,将所述半导体芯片贴装在所述基板的上表面,所述半导体芯片与所述基板电连接;在所述基板的部分上表面形成包覆所述半导体芯片的塑封层;提供电感器,所述电感器的底部表面上具有凸起的多个柱状电极,所述柱状电极与电感器中的电感线圈电连接,将所述电感器贴装在所述基板的上表面上,且所述电感器横跨在包覆所述半导体芯片的塑封层的上表面,所述电感器的底部表面粘附在所述塑封层的上表面,所述电感器的柱状电极焊接在所述基板上表面。本申请方法能防止电感器与基板之间焊接点断裂或电感器脱落,提高封装结构性能,并简化了工艺步骤,提高制作效率。
技术关键词
半导体芯片 柱状电极 电感器 封装结构 基板 防溢胶槽 电感线圈 绕线式电感 焊料 申请方法 凸点 叠层
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