一种VCSEL芯片的制备方法

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一种VCSEL芯片的制备方法
申请号:CN202410821428
申请日期:2024-06-24
公开号:CN118783233A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种VCSEL芯片的制备方法,其步骤有:在衬底A正面依次生长缓冲层、停止层、N接触层、N‑DBR、有源层、P‑DBR以及P接触层;在P接触层上方做P接触金属,将外延结构刻蚀至停止层,并对其表面进行氧化;将衬底A与支撑载片正面相对进行临时键合;衬底A从背面减薄;将衬底A除外延层以外的剩余衬底和缓冲层去除;将停止层去除,得到与支撑载片临时键合的VCSEL外延层结构,露出N接触层背面;在N接触层背面制备N电极;在另一衬底B正面制备键合金属层;将N电极与衬底B正面相对,并通过键合金属层进行永久键合;进行解键合,并清洗;得到具有高效散热效果的VCSEL芯片。本方法能够在有效改善VCSEL芯片散热效果的同时,具有更小的串联电阻。
技术关键词
VCSEL芯片 接触层 衬底 外延层结构 缓冲层 外延结构 器件结构 电极 正面 键合结构 层厚度 碳化硅 化学抛光 刻蚀气体 机械抛光 粘附剂 层材料 氮化铝
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