一种基于疲劳损伤的IGBT风险评估方法

本发明公开了一种基于疲劳损伤的IGBT风险评估方法，涉及功率半导体器件IGBT的可靠性评估领域。考虑到IGBT实际运行中产生的疲劳损伤会对其故障概率造成较大影响，提出一种综合考虑运行时间与疲劳损伤的IGBT风险评估模型，并运用核密度估计法与近似方法构建了IGBT的时间‑损伤二维概率密度函数作为其失效概率密度函数。该风险评估模型可对IGBT进行多维度的风险评估，包括不同季节、不同运行时间以及不同疲劳损伤程度下故障率的计算。本发明所构建的IGBT风险评估模型可以保证评估模型的准确性，进一步拓展了其应用范围，更贴近IGBT工作时的实际情况，可为提高工程中IGBT的可靠性提供参考价值。