一种芯片电性能测试装置

本发明公开了一种芯片电性能测试装置，属于芯片测试技术领域。该装置包括基座合件、测试组件和盖板合件，所述测试组件设在基座合件上，所述盖板合件与测试组件连接，且盖板合件下压放置于测试组件上的芯片，使芯片与测试组件保持电性接触。通过旋转旋钮下压芯片，使芯片与测试板上的弹针保持电接触，此外，当芯片因封装等原因造成整体厚度变化后，仍然能够通过调节旋钮使芯片与测试板上的弹针保持电接触，确保芯片电性能测试工作能够顺利进行，通用性好，实用性强。