一种同步式芯片测试装置

本申请公开了一种同步式芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域。本申请的一种同步式芯片测试装置，包括用于放置芯片的测试工位、两个分别设于测试工位两侧的测试片、承载于两个测试片下方的电路板，测试片具有靠近测试工位的测试端和抵触于电路板上的连接端，同步式芯片测试装置还包括驱动组件，驱动组件包括两个分别位于两个测试片两侧的驱动块，两个驱动块能够同步移动并将两个测试片的测试端同步抵压于芯片两侧的引脚上。本申请的同步式芯片测试装置，其上的两个驱动块能够将两个测试片的测试端同步抵压于芯片两侧的引脚上，以对芯片两侧的引脚进行同步测试，有效的提升了芯片测试精度。