尺寸测量方法及相关设备

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尺寸测量方法及相关设备
申请号:CN202410850277
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118640796A
公开日期:2024-09-13
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种尺寸测量方法及相关设备,所述方法包括:控制第二摄像装置测量平台上待测工件的第一完整图像,根据第一完整图像获取待测工件的粗定位坐标系;根据粗定位坐标系调整第一光源和第二光源的位置,根据第一标定亮度调整第一光源的亮度,根据第二标定亮度调整第二光源的亮度;根据待测工件的第一完整图像和第一摄像装置的拍摄范围,对待测工件的多个区域进行拍摄,得到待测工件的多个区域图像,并根据多个区域图像生成待测工件的第二完整图像;基于第二完整图像,得到待测工件的尺寸数据。本申请实施例可以实现工件尺寸的全自动测量,提升了尺寸测量精度,保障了工件品质的一致性。
技术关键词
待测工件 尺寸测量方法 摄像装置 计算机辅助设计软件 图像 光源 亮度 生成工具 坐标系 亚像素边缘定位 元素 平台 数据 轮廓 边缘检测算法 方格 顶点
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