系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质

本发明公开了一种系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质，其中，方法包括：从系统级芯片中提取安全功能模块；根据系统级芯片的参数，构建测试平台；将安全功能模块映射至测试平台，得到映射安全功能模块；根据预设测试用例，利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果。本发明解决了传统的验证方法存在周期长、成本高、验证不全面的技术问题。