芯片的实时检测方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及芯片检测的技术领域，公开了一种芯片的实时检测方法、装置、设备及存储介质，本发明对目标芯片的实时执行任务进行多维度数据采集，获取任务执行特征和芯片负担特征，将特征代入预设算法模型，生成检测执行序列和分析框架，根据序列的第一检测梯度进行芯片检测，获取检测特征和负担特征，通过分析框架生成芯片功能检测图谱，分析图谱，判断是否继续下一位检测梯度的检测，如需继续，调整图谱并进行下一梯度检测，否则结束检测，此方法实现了芯片实时、多维度的精确检测，动态调整检测方案，提升了检测的全面性和高效性，确保了芯片性能和可靠性，解决了现有技术中对芯片的实时检测存在着对芯片正在执行的任务产生影响的问题。