一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和可读存储介质

本发明涉及芯片验证领域，公开了一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和可读存储介质，包括：S11、当首次分割流程结束，时钟交叉数量不为零时，更新间接约束策略，形成更新后间接约束策略；S12、利用更新后间接约束策略再次进行分割流程，得到新的时钟交叉数量；S13、判断新的时钟交叉数量是否等于零；S14、若新的时钟交叉数量为零，则执行布线流程；S15、若新的时钟交叉数量不为零，则返回S11，直至新的时钟交叉数量等于零。当首次分割存在时钟交叉，更新间接约束策略并再次分割，得到新的时钟交叉数量，根据新的时钟交叉数量是否为零确定是否重新更新，当新的时钟交叉数量为零时再进行布线避免验证过程多次返工，提升效率。