基于红外检测的非理想环境下绝缘子劣化的判断方法

本发明提供一种基于红外检测的非理想环境下绝缘子劣化的判断方法，包括：获取红外热像仪采集的绝缘子串的红外图像，并提取红外图像中绝缘子串中各绝缘子的钢帽温度；将绝缘子串中各绝缘子的钢帽温度和环境参数输入至第一神经网络模型，得到第一神经网络模型输出的修正后的各绝缘子的钢帽温度；基于修正后的各绝缘子的钢帽温度确定绝缘子串中是否含有劣化绝缘子；其中，第一神经网络模型是基于黑体辐射源的温度以及黑体辐射源在样本环境参数下的红外温度测量值训练得到的。采用上述技术方案，解决了非理想环境下根据相邻绝缘子钢帽温差进行绝缘子劣化红外热像判别时检测准确性较低，检测效果差的问题。