芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质

本发明提供一种芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质，其中方法包括：基于待检测的芯片性能参数，以及芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建芯片性能参数的多项式，多项式用于计算核函数的运行时长；基于核函数在芯片上运行的数据量和实测运行时长，对多项式进行参数拟合，得到芯片性能参数的参数值。本发明提供的方法、装置、电子设备和存储介质，构建用于计算核函数运行时长的芯片性能参数的多项式，实现了贴合芯片真实的芯片性能参数特性的参数建模。基于实际运行核函数时的数据量和实测运行时长，对多项式进行参数拟合，即可实现针对芯片性能参数真实情况的检测，保障基于芯片性能参数的参数值评估算子或者模型的性能的可靠性。