一种自主优化的光学检测方法、装置、系统和存储介质

本申请公开了一种自主优化的光学检测方法、装置、系统和存储介质，用于提高检测系统效率和适应性。本申请包括：初始化AOI检测系统的光学检测参数，对样本显示屏进行压接点亮；使用样本显示屏确定当前AOI检测系统的第一光学检测状态；选取并执行参数调整动作；使用AOI检测系统对样本显示屏进行拍摄，并使用AOI检测系统对拍摄的图像进行缺陷检测，生成AOI检测系统的第二光学检测状态；根据第一光学检测状态和第二光学检测状态为参数调整动作生成调整激励；使用贝尔曼算法结合调整激励对参数调整动作的初始化期望进行调整；重新对样本显示屏进行拍摄、缺陷检测、光学检测状态生成和调整期望，直到满足终止条件。