一种用于电路智能测试的特征选择方法与系统

本发明公开了一种用于电路智能测试的特征选择方法与系统，首先使用离散小波分析对电路时域响应信号进行变换，扩充了电路时域响应信号的时频域信息，然后对离散小波分析后的小波近似系数与前b级小波细节系数进行降维，保证降维后的特征集具有足够数量的有效特征，最后使用组合递增法选择最优特征集，结合了过滤法与包装法的优势，兼顾了特征选择的效果与计算速度。