一种自适应分数阶微分结合特征对齐的去摩尔纹方法

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一种自适应分数阶微分结合特征对齐的去摩尔纹方法
申请号:CN202410941283
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118822874A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种自适应分数阶微分结合特征对齐的去摩尔纹方法,包括以下步骤:S1、获取摩尔纹数据集,下载公开的摩尔纹数据集FHDMi以及UHDM;S2、构建自适应分数阶微分结合特征对齐的网络模型,包括多个层级,每一个层级均包括自适应分数阶微分去摩尔纹模块和特征对齐融合模块;S3、将S1中的摩尔纹数据集输入自适应分数阶微分结合特征对齐的网络模型进行训练;S4、将拍摄的摩尔纹图像输入模型中,得到清晰的无摩尔纹目标图像。本发明采用了自适应分数阶微分去摩尔纹模块和特征对齐融合模块有效解决了摩尔纹残留问题,并且可以有效地提取并保留图像的纹理细节,减少了摩尔纹的运算量以及处理时间。
技术关键词
分数阶 解码器 编码器 分支 层级 注意力 图像 网络 sigmoid函数 输出特征 退火策略 输入端 数据 语义特征 采样模块 融合特征 掩模 输出端 优化器
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