一种芯片测试装置及方法

本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试装置及方法，包括测试台，所述测试台的上表面固定连接有支撑台，所述支撑台的上表面固定连接有测试机，所述支撑台的上表面固定连接有防护罩，所述支撑台的上方设置有定位板，所述防护罩的上表面固定连接有直线电机，所述支撑台的上表面固定连接有限位块，所述支撑台的上表面滑动连接有抵触滑块，所述抵触滑块的前后两面固定连接有侧翼推块，本发明，通过定位板根据芯片的尺寸自动调节夹距，既提升了芯片测试时的稳定性，避免芯片在测试时产生偏移导致测试不准确，且能够根据芯片大小自动调节夹距提高了装置适用性。