一种芯片的测试方法、装置及设备

本申请适用于芯片技术领域，提供了一种芯片的测试方法、装置及设备，包括：响应于对芯片的修调测试指令，确定芯片的多个管脚参数各自对应的存储器响应值，在确定芯片烧写完成后，响应于对芯片的读取指令，获取芯片中与多个管脚参数各自对应的存储器写入值，根据与多个管脚参数各自对应的存储器写入值与存储器响应值，判断芯片是否通过修调测试，在确定芯片通过修调测试的情况下，通过控制芯片的多个管脚的电压或波形频率，判断芯片的输出功能是否合格，当芯片的输出功能合格时，判定芯片合格。通过本发明可以解决如何对芯片进行测试，将不合格的芯片识别出来的问题。