一种集成运算放大器的通用自动化测试系统

本发明公开了一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构，测试电路板包括测试主电路和下位机结构，测试主电路连接待测芯片对其进行测试。上位机结构中DC电源模块连接测试主电路用于向其供电，源表和信号发生器连接测试主电路用于向其提供电压和电流信号，数字I/O模块通过下位机结构连接测试主电路用于将提供的数字信号经过下位机结构，再由下位机结构控制测试主电路选择待测芯片的性能测试项目，测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给PC机。本发明实现集成运算放大器芯片测试项目的自动加载、测试信号的智能发送和接收、以及结果的自动处理和存储，极大提高了测试效率和准确性。