一种偏振多光谱融合的OLED缺陷检测方法

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一种偏振多光谱融合的OLED缺陷检测方法
申请号:CN202410976725
申请日期:2024-07-21
公开号:CN118982500B
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种偏振多光谱融合的OLED屏幕缺陷检测方法,引入偏振和多光谱等多位信息与强度信息,以最大程度上凸显细微缺陷的特征,使用基于多尺度分解的方法将强度图像,偏振图像和多光谱图像融合生成一张多光谱偏振图像,并使用YoloV8检测模型对生成的图像进行多分类训练和检测。针对OLED缺陷数据集缺失,模型难以训练的问题,通过引入多种数据增强和迁移学习的迁移学习的训练策略,并在YoloV8模型中引入注意力机制进行改进增强,本发明提升模型在小样本场景下的检测能力。本发明提升对屏体表面细微缺陷的检测能力,提升屏体表面多类缺陷的检出率,提升OLED屏体检测模型在小样本下的检测能力。
技术关键词
偏振多光谱 屏幕缺陷检测方法 OLED屏幕 Stokes参量 多光谱相机 偏振相机 光源控制器 多光谱融合图像 偏振光源 样品传输装置 RANSAC算法 OLED屏体 缺陷检测算法 引入注意力机制 生成特征向量
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