一种芯片调试方法、装置及系统

本公开提供了一种芯片调试方法、装置及系统，其中，该方法包括：向目标芯片发送调试指令，调试指令用于使得目标芯片启动功能冻结状态；获取目标芯片处于功能冻结状态下的内部运行状态数据；对内部运行状态数据进行数据分析，确定目标芯片的状态分析结果。本公开中的状态数据一定程度上可以指示目标芯片在当前调试时刻的运行情况，使得调试的实时性更强，除此之外，通过状态数据分析可以进一步确定是否存在运行异常等情形，这样不管目标芯片所处真实工作环境如何，均可以得到有效的状态分析结果，适用性更强。