芯片镀金层的等离子清洗方法、芯片封装方法及封装结构

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芯片镀金层的等离子清洗方法、芯片封装方法及封装结构
申请号:CN202410990547
申请日期:2024-07-23
公开号:CN118782459A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供一种芯片镀金层的等离子清洗方法、芯片封装方法及封装结构,该方法包括:提供芯片封装体,芯片封装体包括基板、倒装于基板的芯片以及设置于基板和芯片之间的底填胶层,其中,芯片背离基板一侧设置有镀金层;将待清洗的芯片封装体放置于密闭清洗腔室;对所述清洗腔室进行抽真空处理,并向清洗腔室提供预设气体和预设的射频参数,以在清洗腔室内产生等离子体;利用等离子体去除镀金层表面溢流的底填胶。该方法可以有效去除镀金层表面的底填胶,提升镀金层清洗的效率和效果,提升芯片镀金层和金属铟的焊接性能,提高芯片封装体的可靠性,提高终端测试良率;减少人力物力,节约成本。
技术关键词
等离子清洗方法 芯片封装体 清洗腔室 芯片封装方法 基板 金属散热 射频 抽真空 散热盖 芯片封装结构 氦气 助焊剂 功率 氧气 气体 参数
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