基于光度立体算法的石墨片组件外观缺陷检测方法

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基于光度立体算法的石墨片组件外观缺陷检测方法
申请号:CN202410997492
申请日期:2024-07-24
公开号:CN118858293A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开基于光度立体算法的石墨片组件外观缺陷检测方法,涉及自动检测领域,包括a)、在S1工位利用线扫相机A拍摄石墨片组件的工件表面,在S2工位利用线扫相机B拍摄石墨片组件的工件表面,利用深度学习网络判定石墨片组件为OK品或者NG品,对判定为NG品中的凹点、凸点缺陷记录为待判定缺陷;b)、在S3工位利用彩色线扫相机C垂直拍摄,通过分时频闪曝光获得两张不同曝光的图片;c)、在S4工位采用远心镜头近似正投影模型的面阵相机D,利用光度立体成像法检测步骤a)中的凹点、凸点缺陷类型。本发明能够区分外观缺陷在高度方向上的凹凸属性,凹属性外观缺陷灰度偏暗,凸属性外观缺陷灰度偏亮,漏检数量较传统检测方法降低98%,过检数量降低72%。
技术关键词
外观缺陷检测方法 石墨片 光度立体 条状光源 深度学习网络判定 相机 镍片 像素点 边缘提取算法 预处理算法 工位 远心镜头 坐标系 图像处理技术
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