半导体器件及其制备方法、集成电路、电子设备

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半导体器件及其制备方法、集成电路、电子设备
申请号:CN202411000261
申请日期:2024-07-24
公开号:CN118538760A
公开日期:2024-08-23
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种半导体器件及其制备方法、集成电路、电子设备,涉及半导体芯片技术领域,旨在解决半导体器件导电沟道处的2DEG的浓度不能灵活调整的问题。半导体器件包括:衬底、沟道层、势垒层和P型氮化镓层,沟道层位于衬底的一侧,势垒层位于沟道层远离衬底的一侧;P型氮化镓层位于势垒层远离衬底的一侧。其中,半导体器件还包括:调控层,调控层位于势垒层远离衬底的一侧,调控层的材料包括氮化硅。上述半导体器件应用于功率器件中。
技术关键词
氮化镓层 衬底 势垒层 集成电路 半导体器件导电 半导体芯片技术 氮化硅 电子设备 尺寸 功率器件 电路板
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