一种集成电路芯片的可靠性测试评估方法

本发明公开了一种集成电路芯片的可靠性测试评估方法，包括：搭建用于集成电路芯片测试的测试环境，测试环境包括使用环境和应力环境，根据使用环境定义的环境因子搭建试验箱；确定集成电路芯片在使用过程中决定性能的性能指标，遵循单一变量原则，计算环境因子变化条件下的可靠性系数F1；计算不同应力环境下集成电路芯片的可靠性系数F2；设置应力环境下集成电路芯片的可靠性系数阈值、使用环境下集成电路芯片的可靠性系数阈值，对集成电路芯片的可靠性等级进行评估。本发明确保准确的筛选出劣质的集成电路芯片，提升集成电路芯片产品质量的筛选效果，为后续集成电路芯片产品生产和质量把控提供数据支撑和依据。