缺陷检测方法及其相关设备

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缺陷检测方法及其相关设备
申请号:CN202411025224
申请日期:2024-07-29
公开号:CN119107283A
公开日期:2024-12-10
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种缺陷检测方法及其相关设备,该方法包括:确定待缺陷检测的目标图像的ROI区域,以及将所述目标图像的ROI区域进行裁剪,得到指定数量的小图以及各小图的裁剪坐标信息;通过图像分类模型,从所述指定数量的小图中确定出第一数量的缺陷小图;通过缺陷检测模型,确定所述第一数量的缺陷小图中各缺陷小图的缺陷信息;基于所述第一数量的缺陷小图中各缺陷小图的缺陷信息和裁剪坐标信息,确定所述目标图像的缺陷信息。
技术关键词
图像分类模型 训练样本数据 缺陷检测方法 坐标 实例分割模型 缺陷检测装置 处理器 可读存储介质 裁剪模块 计算机程序产品 存储器 场景 电子设备 工业 批量
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