光芯片老化测试设备

本发明公开了光芯片老化测试设备，涉及芯片测试技术领域，解决了盐雾在设备内部扩散，设备内部顶面也会有盐水附着，使得喷淋头对设备内部进行清洗时存在死角的问题，包括测试箱，测试箱的内部固定安装有两个呈对称分布的盐雾喷头，还包括固定安装于测试箱后下端的排水管，且排水管与测试箱相互连通，测试箱的内部安装有喷淋结构，喷淋结构用于对测试箱内部进行冲洗；本发明通过安装喷淋结构和导流结构，在喷淋结构对测试箱内部进行冲洗的过程中，导流结构中的弧形导流板能够改变部分清水的流向，使清水向上射出，能够对测试箱内部的顶面进行冲洗，从而有利于对测试箱内部无死角清洁，使得对测试箱内部的清洗较为彻底。