基于图像分析的SMT缺陷诊断与改进方法及系统

本申请涉及人工智能技术领域，公开了一种基于图像分析的SMT缺陷诊断与改进方法及系统，其中，所述方法包括获取目标产品的表面贴装图像；通过特征提取模型提取所述表面贴装图像的初始图像特征；基于特征降维模型对所述初始图像特征进行降维处理，得到降维图像特征；利用分类器模型识别所述降维图像特征归属的目标分类，以确定所述目标分类表征的缺陷类型；获取所述缺陷类型对应的生产设备参数，并在调整所述生产设备参数之后对所述目标产品重新进行表面贴装。本公开一个或多个实施方式提供的技术方案，能够便捷地检测目标产品是否有缺陷并作出相应缺陷调整。