多工位高效芯片检测装置

本发明公开了一种多工位高效芯片检测装置，包括机架，机架上设有芯片上下料运输机构、芯片上下料搬运机构、治具移载机构、治具翻转驱动机构、检测治具、CCD视觉检测机构和不良品运输机构，本发明的结构设计合理，可完成芯片的自动上下料运输、芯片的自动化转移搬运、芯片的正面检测、翻转后的芯片侧面检测、不良品的分料搬运等一系列自动化作业，自动化程度高，运行稳定可靠，使用方便，可实现芯片的批量检测，大大提高了检测效率，并且设备的体积小，降低了设备的使用成本。