一种检测平板玻璃缺陷深度的方法和装置

本发明公开一种检测平板玻璃缺陷深度的方法和装置，涉及玻璃检测技术领域，采用反射光源和透射光源对平板玻璃进行照明，反射光源和透射光源与平板玻璃法线均为30°，获得反射实像和虚像的光信号；根据获得的光信号，都进行静态校正和动态校正处理，再进行过滤后去除噪声，最后放大处理，转化为电信号；从电信号中提取出反映缺陷特征的关键信息，生成缺陷成像示意图；通过缺陷成像示意图测量出的反射实像和虚像的间距来计算缺陷深度；本发明采用反射光源与透射光源与平板玻璃法线为30°成像测缺陷，依据缺陷深度算法，确定缺陷深度值；解决了现有技术中对缺陷由于平板玻璃传输跳跃等原因而无法形成虚像时，深度测量困难的问题。