绝缘材料的检测方法和检测装置

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绝缘材料的检测方法和检测装置
申请号:CN202411034246
申请日期:2024-07-30
公开号:CN119000682A
公开日期:2024-11-22
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种绝缘材料的检测方法和检测装置,该方法包括:向绝缘材料发射激光,绝缘材料将激光进行反射;获取反射激光的光谱图像,并根据光谱图像的信息,得到多个特征参数;根据多个特征参数,确定绝缘材料的特征峰;根据特征参数和特征峰,确定绝缘材料的特征峰和光谱图像的特征之间的预设关系,完成对绝缘材料的检测。通过得到绝缘材料的特征峰和光谱图像的特征之间的预设关系,解决了现有技术中缺少对于绝缘材料与激光光谱的特征之间的关系认定的问题。
技术关键词
绝缘材料 图像 像素点 颜色空间模型 激光 可读存储介质 概率密度函数 灰度矩阵 计算机程序产品 关系 处理器 信息熵 存储器 对比度 控制模块 电子设备 数据
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