一种DFT向量的多功能SOC芯片老化系统

本发明公开了一种DFT向量的多功能SOC芯片老化系统，该系统包括机架、上位机、激励板、老化板和待老化SOC芯片；机架采用多层等间距结构，包括指示灯、交换机、智能控制器、电源插座和万向轮；上位机包括系统配置模块、预处理模块、数据查询模块、故障处理模块；激励板用FPGA和控制芯片控制多个SOC芯片进行老化测试。本发明在激励板上使用FPGA和控制芯片控制多个SOC芯片进行老化测试，提高SOC芯片的同测数量，进而提高SOC芯片自动老化测试的效率；同时，激励板中的各器件均是常规器件，成本大大降低且激励板通用性更高，适用多种场景；此外，利用FPGA、MCU和控制芯片控制测试过程，在发现异常时及时警告和处理，进一步优化了测试过程，提升测试效率和准确性。