一种使用GPU加速集成电路测试的方法

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一种使用GPU加速集成电路测试的方法
申请号:CN202411050832
申请日期:2024-08-01
公开号:CN118569162B
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种使用GPU加速集成电路测试的方法,涉及电子设备技术领域,包括,通过将集成电路设计的CAD文件导入HFSS和Icepak,实现了从设计图纸到仿真环境的无缝转化,构建电磁场和热场的仿真模型,减少了物理原型制作和测试的成本与时间,利用CUDA技术识别仿真任务中的并行化部分,并对其进行任务分解与并行执行,加快了仿真计算的速度,部署深度学习算法自动优化仿真参数,避免了人为因素导致的误差,创建电磁场和热场的双向耦合仿真项目,实时并行执行两场的计算,在仿真层面实现了电磁与热效应的紧密集成。
技术关键词
电磁场仿真 深度学习算法 并行策略 集成电路设计 热传导方程 长短期记忆单元 CUDA技术 热源 电路布局 仿真系统 热传导模块 仿真模型 耦合平台 表达式 参数 深度神经网络 深度学习模型 磁感应强度 信号源
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