一种智慧家电AI芯片测试装置

本发明公开了一种智慧家电AI芯片测试装置，具体涉及AI芯片测试领域，包括桌台，所述检测室内腔上部与桌台上端共同设置有检测结构，所述检测室上端前部固定连接有测试仪，所述检测结构下端与桌台上端共同设置有在检测室内表面对称分布的定位结构，所述桌台上端位于检测室右侧的部分固定连接有间歇送料结构。本发明所述的一种智慧家电AI芯片测试装置，通过定位结构与检测结构的配合对芯片进行自动定位使得芯片引脚能够被检测结构捕捉并向上提升，对芯片进行通电检测，检测完成后利用检测结构与定位结构的作用将芯片送出，实现自动定位、检测、出料，减少人工放置所导致的引脚损坏、静电干扰或者引脚脏污影响检测效果等情况的发生。