一种显示屏的质量检测方法、电子设备及存储介质

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一种显示屏的质量检测方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411058286
申请日期:2024-08-02
公开号:CN118587210B
公开日期:2025-01-03
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种显示屏的质量检测方法、电子设备及存储介质,涉及图像处理技术领域,方法包括:获取待检测显示屏中显示预设画面时采集的待检测显示屏的图像,作为待检测图像;对待检测图像进行缺陷提取,得到待检测显示屏中的目标Mura缺陷在待检测图像中的缺陷图像区域;基于目标Mura缺陷的缺陷图像区域,计算目标Mura缺陷的属性信息;基于目标Mura缺陷的属性信息,计算目标Mura缺陷的感知量;感知量表示用户对目标Mura缺陷的感知程度;基于目标Mura缺陷的感知量,确定待检测显示屏的质量检测结果,可以提高显示屏质量检测的准确性,从而保证产品质量,提高用户体验。
技术关键词
Mura缺陷 检测显示屏 样本 矩阵 芯片系统 计算机程序代码 画面 多层感知器 电子设备上执行 计算机程序产品 相机 处理器 网络 图像处理技术 对比度 像素点
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