一种光通片崩边缺陷检测方法

本发明公开了一种光通片崩边缺陷检测方法，涉及缺陷检测技术领域。本发明包括以下步骤：S1、原始光通片图像获取步骤；S2、尺寸信息获取步骤；S3、预处理步骤；S4、光通片单元区域识别步骤；S5、光通片单元图像提取步骤；S6、崩边检测步骤。本发明采用图像采集设备获取原始光通片图像。本发明可以自动识别光通片单元崩边缺陷以及其严重程度。本发明不仅可以在生产线上快速执行，还可以提供高度准确的检测结果，几乎消除人为错误。