嵌入式存储测试方法与设备

本发明公开了嵌入式存储测试方法与设备，涉及存储芯片测试技术领域，包括搭建存储芯片组测试环境，包括搭建完整系统设备，在系统设备基础上拓展测试设备；通过测试设备对存储芯片组进行整机测试；在测试过程中，根据不同的整机测试的内容选择对应的测试方法和步骤，用于确保存储芯片组的适配稳定性和整体性能。通过搭建存储芯片组测试环境和整机测试设备，能够全面测试存储芯片组的各项性能，确保存储芯片组在不同应用场景中的适配稳定性，测试设备设置有原装存储芯片组位和测试存储芯片组位，通过自动排查功能，可以快速定位并解决存储芯片组的异常问题，省去了传统复杂的验证和排查过程，简化了测试流程，提高了测试效率。