一种异构芯片的性能测试方法、装置、电子设备及介质

本发明涉及信息处理技术领域。本发明公开了一种异构芯片的性能测试方法、装置、电子设备及介质。包括：获取异构芯片的测试配置信息，调用测试场景对应的脚本模板，基于至少两种芯片类型、测试参数、测试指标和测试场景对应的脚本模板生成测试脚本；基于测试场景和测试参数预测测试资源量，在至少两种芯片类型的芯片中创建计算节点，并基于测试资源量为计算节点分配测试环境所需的计算资源；基于测试脚本控制各芯片对应的计算节点分别执行测试过程，获取各类型的芯片在测试过程中测试指标的指标数据；基于指标数据得到各类型的芯片的性能比对结果。实现通过构建一致性的自动化测试脚本对不同类型芯片进行性能测试，提高芯片测试的适用性和高效性。