折叠波导的电导率和内表面粗糙度的确定方法及其装置

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折叠波导的电导率和内表面粗糙度的确定方法及其装置
申请号:CN202411080084
申请日期:2024-08-07
公开号:CN118962247B
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种折叠波导的电导率和内表面粗糙度的确定方法及其装置,涉及真空电子技术领域,其中,该方法包括:获取折叠波导慢波结构的结构参数以及折叠波导的第一材料电导率,获取折叠波导高频组件的工作频率,基于结构参数、第一材料电导率及工作频率确定折叠波导与矩形波导间的衰减关系值,测量高频组件的实测反射系数和实测传输系数,基于实测反射系数和实测传输系数确定慢波结构在单周期内折叠波导的目标衰减值,基于结构参数、工作频率、衰减关系值以及目标衰减值,确定折叠波导的目标电导率,基于目标电导率确定折叠波导的目标内表面粗糙度。本发明解决了相关技术中无法准确获取折叠波导的有效电导率以及内表面粗糙度的技术问题。
技术关键词
折叠波导慢波结构 高频组件 能量耦合结构 粗糙度 周期 趋肤深度 真空电子技术 可读存储介质 参数 仿真模型 关系 仿真建模 计算机 处理器 底板 存储器 直线
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