芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质

本申请适用于芯片测试技术领域，提供了芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：获取测试通过的多个第一芯片中每个第一芯片的测试值，多个第一芯片对应相同的测试限值；根据多个第一芯片的测试值以及测试限值，从多个第一芯片中确定至少一个潜在缺陷芯片；确定每个潜在缺陷芯片的余量值，余量值指示任一潜在缺陷芯片与芯片测试图中相邻的至少一个芯片中每个芯片的测试值之间的差异程度；芯片测试图包括多个芯片的测试值，多个芯片包括至少一个潜在缺陷芯片；根据余量值与预设阈值之间的大小关系，重新确定任一潜在缺陷芯片的测试结果。以此降低芯片失效的概率，提高芯片测试的可靠性以及准确性。