一种基于灰度联产熵增的成形制件浅表缺陷检测方法

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一种基于灰度联产熵增的成形制件浅表缺陷检测方法
申请号:CN202411091662
申请日期:2024-08-09
公开号:CN118967636B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于灰度联产熵增的成形制件浅表缺陷检测方法。包括以下步骤:首先,针对获得的成形制件浅表缺陷图进行预处理,形成源域样本数据集,再由其构建训练集和验证集;接着,构建机器学习与先验知识结合的主副双通道的异化神经网络,并利用训练和验证集进行训练,获得成形制件浅表缺陷检测分类器;最后,用其检测实际采集的成形制件浅表缺陷图。本发明提出了双通道双接口交互的异化神经网络,灰度联产熵增方法增强了对极相似缺陷特征的提取与整合能力,能够在保证分类器模型复杂度不增、检测速度不减的情况下,提高现有深度学习策略下工业成形制件浅表缺陷锚框分类精度,有效缓解小样本精度不高的难题。
技术关键词
缺陷检测方法 主副双通道 制件 灰度特征提取 特征提取模块 成形 深层特征提取 灰度共生矩阵 灰度直方图 边缘检测 定位模块 缺陷检测器 分类器模型 样本 超参数 训练集
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